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DUALSCOPE DMP20/40：可測量非磁性金屬基材上的非導電層以及磁性基材上的非磁性層。結(jié)合了振幅敏感渦流法和磁感應(yīng)法，功能更為全面。例如在電子電器產(chǎn)品的生產(chǎn)中，對于金屬外殼既有塑料涂層又有金屬鍍層的復雜結(jié)構(gòu)，能準確測量不同涂層的厚度。該系列中 DMP30/40 型號具有擴展功能，如藍牙接口，且掃描模式下當探頭在表面移動時，可按定義的時間間隔和測量次數(shù)自動記錄測量讀數(shù)，大大提高了檢測效率。

當測厚儀的探頭與磁性金屬基材接觸時，探頭中的線圈會產(chǎn)生磁場。若基材上有非磁性涂層，涂層厚度的變化會導致磁場強度發(fā)生改變，儀器通過檢測這種磁場變化來計算涂層厚度。此方法適用于測量磁性基材（如鋼鐵）上的非磁性涂層，如鋼鐵表面的油漆、塑料涂層以及鋅、鉻等金屬鍍層的厚度測量。